用户名： 密码： 验证码：
常用资源 电子图书期刊论文学位会议外文资源特色专题内部出版物 
中国地质文献-英文(249)馆藏书目(73)万方学术会议(1336)知网期刊论文(12979)
中国地质文献-中文(5748)地学标准(54)CNKI会议论文(97)万方学位论文(1146)
馆藏电子书[解放前](1)院士团队服务(4)CNKI学位论文(6522)标准(22)
馆藏期刊(3724)综合电子资源(2)CNKI期刊论文0611(93)新数字化标准(5)
在“地学标准”中，命中：54条，耗时：0.0399546 秒

在所有数据库中总计命中：32,055条

1.掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程
标准编号：GB/T 13389-2014
标准类型：国家标准
发布日期：2014-12-31
实施日期：2015-09-01
2.300mm 硅单晶切割片和磨削片
标准编号：GB/T 29508-2013
标准类型：国家标准
发布日期：2013-05-09
实施日期：2014-02-01
3.300mm 硅单晶
标准编号：GB/T 29504-2013
标准类型：国家标准
发布日期：2013-05-09
实施日期：2014-02-01
4.过套管电阻率测井仪
标准编号：SY/T 6972-2013
标准类型：行业标准
发布日期：2013-11-28
实施日期：2014-04-01
5.硅片径向电阻率变化的测量方法
标准编号：GB/T 11073-2007
标准类型：国家标准
发布单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
发布日期：2007-09-11
实施日期：2008-02-01
6.电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法
标准编号：GB/T 19289-2003
标准类型：国家标准
关键词：电阻率 ; 电工钢 ; 密度 ; 测量
发布单位：全国钢标准化技术委员会
发布日期：2003-09-12
实施日期：2004-04-01
7.精密电阻合金电阻率测试方法
标准编号：GB/T 6146-2010
标准类型：国家标准
发布日期：2010-12-01
实施日期：2011-05-01
8.锗单晶电阻率直流四探针测量方法
标准编号：GB/T 26074-2010
标准类型：国家标准
发布日期：2011-01-10
实施日期：2011-10-01
9.半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法
标准编号：GB/T 6616-2009
标准类型：国家标准
发布单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
10.硅单晶电阻率测定方法
标准编号：GB/T 1551-2009
标准类型：国家标准
发布单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
1
2
3
4
5
6
按检索点细分(54)
标准名称(44)
摘要(18)
关键词(21)
按发布日期细分(54)
2014年(1)
2013年(3)
2011年(1)
2010年(1)
2009年(5)
2008年(2)
2007年(5)
2006年(1)
2003年(2)
2000年(1)
2000年及以前(31)
其它(1)
按标准来源细分(54)
本地标准(49)
数字化标准(5)
按标准状态细分(54)
有效(29)
无效(20)
其它(5)

© 2004-2018 中国地质图书馆版权所有 京ICP备05064691号 京公网安备11010802017129号

地址：北京市海淀区学院路29号 邮编：100083

电话：办公室：(+86 10)66554848；文献借阅、咨询服务、科技查新：66554700