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用于门控组件的高精度低抖动同步技术
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  • 英文篇名:The High-precision and Low-jitter Synchronous Technology on Gate-control Components
  • 作者:伍伟 ; 方盛江 ; 迟晨 ; 刘德林
  • 英文作者:WU Wei;FANG Shengjiang;CHI Chen;LIU Delin;The 55th Research Institute of China Electronic Technology Group Corporation;
  • 关键词:距离选通 ; 门控电路 ; 输入输出延迟单元 ; 高精度 ; 低抖动
  • 英文关键词:range-gated;;gate-control circuit;;IODELAY;;high precision;;low jitter
  • 中文刊名:GDJS
  • 英文刊名:Optoelectronic Technology
  • 机构:中国电子科技集团公司第五十五研究所;
  • 出版日期:2019-03-30
  • 出版单位:光电子技术
  • 年:2019
  • 期:v.39
  • 语种:中文;
  • 页:GDJS201901010
  • 页数:5
  • CN:01
  • ISSN:32-1347/TN
  • 分类号:45-49
摘要
根据距离选通微光ICCD组件及水下高速成像组件中对于门控电路的需求,本文解决了在外触发模式下,系统输出脉冲与外触发之间的同步效果差与抖动大问题,提出一种基于FPGA精细调节单元IODELAY的高精度低抖动的同步脉冲控制技术。此单元具有受温度影响小、时间分辨率高的优势,充分满足了组件中像管对于门控时间精度与抖动的要求,此技术在各类门控组件中有很好的应用价值。
        According to the requirements of gate-control circuit in range-gated low-light-level ICCD components and underwater high-speed imaging components a high accuracy and low jitter synchronous pulse control technique based on FPGA fine adjustment unit IODELAY was proposed to solve the synchronization and the jitter problem between the output pulse and the external trigger. This unit has the advantage of small temperature effect and high time resolution, which fully meets the requirements of the gated-control time precision and jitter of the image tube in the component. This technology has good application in all kinds of gate control components.
引文
[1] 王锐. 激光距离选通成像门宽对图像信噪比影响[J]. 中国光学, 2015,8(6):120-124.
    [2] 彭正枫, 王元庆. 基于FPGA精细延迟单元的TDC算法设计[J]. 光电子技术, 2015, 35(3): 165-170.
    [3] 赵阳,盖志刚,赵杰. 距离选通水下激光成像技术研究[J]. 物流工程与管理, 2014, 36(7): 93-95.
    [4] 夏宇闻. Verilog 数字系统设计教程[M]. 北京:北京航空航天大学出版社, 2008.
    [5] 赵君,艾铁柱,张宇坤. 基于IODELAY原语SAR载荷模拟器延迟单元设计[J]. 计算机测量与控制, 2016, 24(8): 240-248.
    [6] 黄海舰. 基于FPGA时间内插技术的TDC设计[D]. 武汉:华中师范大学,2013.
    [7] 祁迹,邓智,刘以农. 一种基于FPGA的高精度单周期TDC设计[J]. 核电子学与探测技术,2011,31(4):378-381.

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