二次靶偏振激发能量色散X射线荧光光谱测定铁矿石中硫

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• 作者：DING Hui丁慧WANG Qiao-ling王巧玲WANG Zai-tian王再田
• 会议时间：2012-10-31
• 关键词：炼铁工业 ; 铁矿石 ; 粉末压片法 ; 硫元素含量 ; 二次靶偏振激发 ; 能量色散XRF光谱
• 作者单位：DING Hui,WANG Qiao-ling,WANG Zai-tian(Inner Mongolia Erlianhaote Entry-Exit Inspection and Quarantine Bureau, Erlianhaote 011100, China)丁慧,王巧玲,王再田(二连浩特出入境检验检疫局,内蒙古二连浩特011100)
• 母体文献：2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)论文集
• 会议名称：2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)
• 会议地点：北京
• 主办单位：中国金属学会
• 语种：chi

摘要

本文提出用粉末压片法、以二次靶偏振激发能量色散X射线荧光光谱(XRF)测定铁矿石中硫的新方法.借助C-S 800碳-硫仪分析日常铁矿石S(%)定植样为参考校正标准样,以抵消铁矿石颗粒度、矿物组成差异影响.对硫含量在0.5%~2.5%以上铁矿石分析获得满意结果.本方法作为技术储备而受到好评,国内还没见到类似文献报道.