工业镓化学分析方法杂质元素的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
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- 标准号：YS/T 666-2008
- 发布日期：2008-03-12
- 英文题名：Chemical analysis methods of gallium for industrial use-Determination of impurity elements-Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
- 实施日期：2008/9/1
- 中国标准分类号：H 12
- 行业类别：YS
- 替代标准：无
- 是否作废：否
- 页数：8
- 馆藏标志：有
- ICS分类号：ICS 77.120.99
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