贵金属首饰含量的无损检测方法: X射线荧光光谱法

详细信息    贵金属首饰含量的无损检测方法: X射线荧光光谱法

• 出版日期：2000
• 语种：chi
• 出版者：中国标准出版社
• 页数：i, 2页
• 出版地：北京
• 其余责任说明：本标准由国家轻工业局提出 ; 本标准由国家首饰质量监督检验中心起草 ; 主要起草人沈沣, 范积芳
• 定价：￥6.00
• 分类号：a155.435032

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01a0027426；￥6.00；GB/T 18043-2000；20011205d2000 ekmy0chiy0110 ea；chi；a l 000yy；r；贵金属首饰含量的无损检测方法: X射线荧光光谱法；[国家标准]；Precious metal jewellery content non-damaged test method -- X-ray fluorescence spectrometry；本标准由国家轻工业局提出 ; 本标准由国家首饰质量监督检验中心起草 ; 主要起草人沈沣, 范积芳；gui jin shu shou shi han liang de wu sun jian ce fang fa: X she xian ying guang guang pu fa；北京；中国标准出版社；2000；i, 2页；2000-04-05发布 2000-09-01实施；Precious metal jewellery content non-damaged test method -- X-ray fluorescence spectrometry；eng；a155.435032；沈 沣 ; 范积芳；国家首饰质量监督检验中心；101；CB00061795 ; CB00061796；r￥6.00；a10；b2