X射线衍射分析技术

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• 责任者：晋勇 ; 孙小松 ; 薛屺
• 关键词：X射线衍射分析
• 出版日期：2008
• 语种：chi
• 出版者：国防工业出版社
• 页数：302页
• 出版地：北京
• 第一责任说明：晋勇, 孙小松, 薛屺编著
• 定价：CNY39.00
• 尺寸：26cm
• 分类号：a155.435
• ISBN：978-7-118-05778-2

MARC全文

01h0008368；20090716155401.0；978-7-118-05778-2；CNY39.00；20090619d2008 em y0chiy0110 ea；chi；CN；110000；ak z 000yy；r；X射线衍射分析技术；Xshe xian yan she fen xi ji shu；晋勇, 孙小松, 薛屺编著；北京；国防工业出版社；2008；302页；图, 表；26cm；本书内容包括X射线物理学基础、晶体和空间点阵、X射线衍射方向、X射线衍射强度、X射线衍射方法、X射线物相分析、点阵常数的精确测定、宏观残余应力的测定、晶粒尺寸和微观应力的测定、全谱拟合与Rietveld精修原理和计算软件等10章及附录。；X射线衍射分析；O657.39；4；a155.435；晋勇 ; 孙小松 ; 薛屺；jin yong ; sun xiao song ; xue qi；编著 ; 编著 ; 编著；CN；NGL；20090619；NGL；155.435；497；fqyz0908；h1 ; rCNY39.00