半导体材料和高纯金属的分析

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• 副题名：冶金工业部科技情报产品标准研究所编
• 主题词：半导体材料 分析 高纯金属 金属分析
• 责任者：冶金工业部科技情报产品标准研究所
• 责任方式：编
• 出版者：中国工业出版社
• 出版年：1900
• 出版地：北京
• 出版日期：1900/1/1 0:00:00
• 价格：0.45
• 页码：0
• 分类号：342
• 语言：中文

摘要

书中叙述了高纯度的硅、二氧化硅、三氯硅烷、四氯化硅、锗、二氧化锗、镓、砷、砷化镓、镉、硫化镉、铼、铟等半导体材料及其中间产品中痕量杂质元素和高纯金属的测定方法，其中大部分是化学光谱法，也介绍了比色法和极谱法。附录中介绍了高纯石墨的分析方法和高纯物质分析中常用试剂的提纯方法。