硅钼黄分光光度法测定硅微粉中二氧化硅

详细信息   全文下载|推荐本文 |

• 出版年：2009
• 作者：刘丽娟；张娜；刘瑜；李勇超；庄源益；金朝晖
• 单位1：南开大学环境科学与工程学院
• 出生年：1986
• 学历：硕士研究生
• 语种：中文
• 作者关键词：二氧化硅；硅微粉；钼酸铵；分光光度法
• 起始页：63
• 总页数：3
• 刊名：冶金分析
• 是否内版：否
• 刊频：月刊
• 创刊时间：1981
• 主管单位：中国钢铁工业协会
• 主办单位：中国钢研科技集团公司（钢铁研究总院）；中国金属学会
• 主编：王海舟
• 电子信箱：yjfx@analysis.org.cn；yjfx@chinajournal.net.cn
• 卷：29
• 期：10
• 期刊索取号：P340.6262-1
• 数据库收录：SCOPUS数据库收录期刊
• 核心期刊：全国中文核心期刊；美国“CA”千种表中国化学化工类核心期刊

摘要

针对硅微粉中SiO₂含量较高且含Fe、Al等杂质的特点，本文研究了一种用无水K₂CO₃和KOH作熔融剂，钼酸铵作显色剂并用分光光度法测定二氧化硅含量的新方法。实验结果表明，在0.1～0.3 mol/L的酸度下，正硅酸与钼酸铵生成硅钼杂多酸（硅钼黄），选择硅钼黄的吸收波长在410 nm处，表观摩尔吸光系数为8.77×10⁶ L·mol^-1·cm^-1。SiO₂浓度在0～1.0 mg/mL范围内符合比尔定律，相关系数r=0.999 6，检出限为0.052 μg/mL。本法适用于硅微粉中二氧化硅含量的测定，回收率在99%～101%之间，相对标准偏差(RSD)控制在0.79%～1.8%（n=6）范围内，测定结果与X射线荧光光谱法的结果相一致。该方法亦可推广用于其他高含量二氧化硅样品的测定。