合成孔径雷达空间变迹带宽外推超分辨算法

详细信息   全文下载|推荐本文 |

• 出版年：2010
• 作者：张平；杨汝良
• 单位1：中国科学院 研究生院
• 单位2：中国科学院 电子学研究所
• 出生年：1979
• 学历：博士研究生
• 语种：中文
• 作者关键词：合成孔径雷达（SAR）；空间变迹法（SVA）；带宽外推；超分辨率
• 起始页：71
• 总页数：5
• 刊名：测绘学报
• 是否内版：否
• 刊频：双月刊
• 创刊时间：1957
• 主管单位：中国科学技术协会
• 主办单位：中国测绘学会
• 主编：陈俊勇
• 地址：北京复兴门外三里河路50号
• 邮编：100045
• 电子信箱：chxb@periodicals.net.cn；chxb@chinajournal.net.cn
• 网址：http://xb.sinomaps.com；http://chtb.periodicals.net.cn/；http://chtb.chinajournal.net.cn/
• 卷：39
• 期：1
• 期刊索取号：P810.66 649-5
• 数据库收录：美国《工程索引》(EI)核心期刊；2008年度中国精品科技期刊；第四届中国百种杰出学术期刊；中国科学技术协会优秀期刊；中国学术期刊综合评价数据库核心统计源期刊；中国科技论文数据库核心统计源期刊；中国科技引文数据库核心统计源期刊；中国科技核心期刊；全国中文核心期刊；中国学术期刊检索与评价数据规范执行优秀期刊；美国《剑桥科学文摘》(CSC)收录期刊；俄罗斯《文摘杂志》(AJ)收录期刊；中国期刊全文数据库收录期刊
• 核心期刊：美国《工程索引》(EI)核心期刊；中国学术期刊综合评价数据库核心统计源期刊；中国科技论文数据库核心统计源期刊；中国科技引文数据库核心统计源期刊；中国科技核心期刊；全国中文核心期刊

摘要

提出一种变迹法带宽外推合成孔径雷达（SAR）超分辨率成像算法，可以提高合成孔径雷达成像分辨率并抑制旁瓣。利用空间变迹法（SVA）处理后的带宽扩展效应，对频谱进行幅度均衡使有效带宽扩展，并利用非整数倍Nyquist采样率空间变迹法对外推后的旁瓣抑制，得到输出的高分辨率图像。仿真实验和定量分析验证了本文方法的有效性。