化学富集ＸＲＦＡ法测定岩石、土壤中稀有和稀土元素

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• 责任者：刘庆惠^c中国有色金属工业总公司矿产地质研究院 ; 陈远盘
• 刊名：光谱学与光谱分析
• 出版年：1995
• 卷期：１５^b６
• 关键词：Ｘ射线荧光 ; 稀有元素 ; 稀土元素20^a痕量元素分析 ; 土壤 ; 样品制备 ; 离子交换 ; 岩石30^a共沉淀
• 页码：９９～１０５
• 索书号：P342.06/220
• 图表：表５参７插图
• 分类号：2300
• 文摘期号：1996/06

摘要

报道了用化学富集ＸＲＦＡ法测定岩石、土壤中Ｎｂ、Ｔａ、Ｚｒ、Ｈｆ、Ｔｉ、ＲＥ等微量元素方法，其检出限为００６－０８μｇ／ｍｌ。采用共沉淀法使Ｃａ、Ｍｇ及稀土在一定浓度的ＨＦ溶液中共沉淀，实现与稀有元素及Ｆｅ、Ａｌ的分离。然后在阴离子交换柱上实现稀有元素与基体元素分离；稀土元素在阳离子交换柱上与Ｃａ、Ｍｇ等基元素分离。最后用薄样ＸＲＦ法分别测定稀有和稀土元素。实验确定了化学富集分离条件，仪器装置及分析测定条件，并制订了一个用明胶做分散剂制薄样的方法。该法降低了ＸＲＦ分析稀有、稀土元素的检出限，扩大了ＸＲＦＡ应用范围，经４个水系沉积物标样的验证，测定值与标准值基本相符，实测Ｎｂ、Ｔａ、Ｚｒ、Ｈｆ、Ｔｉ、Ｌａ、Ｓｍ、Ｅｒ７元素的ＲＳＤ为１８７％－１３７％（ｎ＝１５）。（叶艳）