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罩退重卷带头印缺陷原因分析及控制措施
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  • 英文篇名:Cause analysis and control measures of head print defect in batch annealing recoiling line
  • 作者:昝现亮
  • 英文作者:ZAN Xian-liang;Metallurgical Process Research Institute,Research Institute of Technology,Shougang Group Corporation;
  • 关键词:带头印 ; 微套 ; 张力 ; 温度
  • 英文关键词:head print;;micro-loop;;tension;;temperature
  • 中文刊名:ZGYE
  • 英文刊名:China Metallurgy
  • 机构:首钢集团有限公司技术研究院冶金过程研究所;
  • 出版日期:2019-06-15
  • 出版单位:中国冶金
  • 年:2019
  • 期:v.29
  • 语种:中文;
  • 页:ZGYE201906015
  • 页数:5
  • CN:06
  • ISSN:11-3729/TF
  • 分类号:76-80
摘要
分析了带头印缺陷产生的原因,并对原因进行筛选,确定了卷取张力、上卷温度、行程开关位置、硬芯卷取以及皮带液压系统压力设置不合理等因素为关键影响因子。将上卷温度控制在45℃以内,开展微套、前3圈不建张、平缓建张等措施改善带头印缺陷,通过一系列攻关试验后制定工艺参数,并通过批量试验不断优化并固化工艺参数,带头印缺陷平均长度由88.7降至34.2m,带头印缺陷明显降低。
        The causes of the headprint defect were analyzed and filtered,and the coiling tension,coil temperature,limit switch position,hard core coiling process,presetting pressure of the belt hydraulic system were determined to bekey factors.By controlling the coil temperature within 45 ℃,carrying out micro-loop,unbuilding tension in the first 3 laps,smoothly building tension to improve head print defects,developing process parameters through a series of tack tests,continuously optimizing and solidifying process parameters through batch tests,the average length of the head print defect was reduced from 88.7 to 34.2 m,and the lead print defect decreased significantly.
引文
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