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不同类型平板探测器的DQE测量比较
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  • 作者:孙智勇 ; 孟昭阳 ; 金玉博
  • 关键词:平板探测器 ; X射线影像探测器 ; DQE测量
  • 中文刊名:ZGQX
  • 英文刊名:China Medical Device Information
  • 机构:辽宁省医疗器械检验检测院;
  • 出版日期:2019-05-15
  • 出版单位:中国医疗器械信息
  • 年:2019
  • 期:v.25
  • 语种:中文;
  • 页:ZGQX201909012
  • 页数:3
  • CN:09
  • ISSN:11-3700/R
  • 分类号:32-33+36
摘要
简要介绍不同X射线影像探测器现状以及影像质量的客观评估方法DQE。同时,选取市场上的主流产品进行测试与比较。
        
引文
[1]Antonuk LE,Jee KW,El-Mohri Y,et al.Strategies to Improve the Signal and Noise Performance of Active Matrix,Flat-Panel Imagers for Diagnostic X-ray Applications[J].Med Phys,2000,27(2):289-306.
    [2]Jee,Kyung-Wook.Theoretical and empirical system performance of active matrix flat-panel imagers[D].Dissertation(Ph.D.)—University of Michigan,2002.
    [3]Siewerdsen,Jeffrey Harold.Signal,noise,and detective quantum efficiency of a-Si:H flat-panel imagers[D].Dissertation(Ph.D.)—University of Michigan,1998.
    [4]YY-T 0590.1-2005医用电气设备数字X射线成像装置特性第1部分量子探测效率的测定[S].2005.

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