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整体叶轮在机测量路径规划中的NX二次开发应用
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  • 英文篇名:Application of NX Secondary Development in On-machine Measurement Path
  • 作者:郑刚 ; 赵涛涛 ; 吴雁 ; 张而耕
  • 英文作者:Zheng Gang;Zhao Taotao;Wu Yan;Zhang Ergeng;Shanghai Institute of Technology;
  • 关键词:NX二次开发 ; 在机测量 ; 避免干涉 ; 路径规划
  • 英文关键词:NX secondary development;;on-machine measurement;;interference avoidance;;measurement path planning
  • 中文刊名:GJJS
  • 英文刊名:Tool Engineering
  • 机构:上海应用技术大学;
  • 出版日期:2017-10-20
  • 出版单位:工具技术
  • 年:2017
  • 期:v.51;No.530
  • 基金:国家自然科学基金(51405304)
  • 语种:中文;
  • 页:GJJS201710035
  • 页数:5
  • CN:10
  • ISSN:51-1271/TH
  • 分类号:131-135
摘要
在机测量可以避免二次装夹、安装基准变化等因素造成的测量误差,提高测量的准确度。本文基于VS2010和NX8.0平台,对整体叶轮在机测量路径规划模块进行了二次开发。该模块可以根据侧铣加工生成的刀轴轨迹进行直接测量,自动提取其中若干刀轴位置的若干点信息,形成测量轨迹,并输出测量轨迹文件,使误差在方向上具有一致性。若测轴跟相邻的叶片发生干涉,可以计算不发生干涉的角度,通过调整测量角度,避免测量干涉。
        On-machine measurement can avoid measurement errors caused by the secondary clamping and the changing of benchmark. So the accuracy of the measurement can be greatly improved. The on-machine measurement path planning module is developed based on NX8.0 and VS2010 platforms,it can automatically extract several point informations of the knife shaft position, generate the measurement trajectories and output the measurement path files. It makes the error on the same direction. If the measuring axis interferes with the adjacent surfaces,the exact interference-free angle can be calculated. Also the adjusted measurement path can be generated.
引文
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