无衍射单晶硅基板-X射线衍射法快速鉴别安全套表面润滑剂中的滑石粉
- 作者：ZHAO Jing-hong赵景红GUO Ya-lin郭雅琳SONG Xiao-ping宋小平ZHANG Ning张宁
- 会议时间：2012-10-31
- 关键词：安全套 ; 质量检测 ; 滑石粉 ; 无衍射单晶硅基板-X射线衍射法
- 作者单位：ZHAO Jing-hong,GUO Ya-lin,ZHANG Ning(Liaoning Entry-Exit Inspection and Quarantine Bureau, Dalian 116001, China)赵景红,郭雅琳,张宁(辽宁出入境检验检疫局,辽宁大连116001)SONG Xiao-ping(Institute of Metal Research,Chinese Academy of Sciences, Shengyang 110016, China)宋小平(中国科学院金属研究所,辽宁沈阳110016)
- 母体文献：2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)论文集
- 会议名称：2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)
- 会议地点：北京
- 主办单位：中国金属学会
- 语种：chi
摘要
本文采用无衍射单晶硅基板-X射线衍射法快速鉴别安全套表面润滑剂中的微量滑石粉,将安全套表面润滑剂均匀涂于无衍射单晶硅基板表面,在X射线衍射仪上测定.测定条件为:采用功率为2 kw的封闭式Cu靶X光管,管电压为40 kV,电流40 mA,扫描范围为2θ=5~60°,扫描方式为步进扫描,扫描间隔为0.02°,停留时间为1 s.在上述条件下,测定了三个生产厂家的样品,实现了对安全套表面润滑剂中的微量滑石粉的快速鉴别.