贵金属首饰检测中图谱分析的重要性

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• 作者：郭星龚卉李海波
• 会议时间：2015-11-30
• 关键词：贵金属首饰 ; 纯度检测 ; X荧光光谱法 ; 图谱分析
• 作者单位：国家珠宝玉石质量监督检验中心,北京100013
• 母体文献：2015中国珠宝首饰学术交流会论文集
• 会议名称：2015中国珠宝首饰学术交流会
• 会议地点：北京
• 主办单位：中国珠宝玉石首饰行业协会
• 语种：chi
• 分类号：TS9;O65

摘要

贵金属首饰检测常出现一些陷阱.本文通过对特殊配方、仪器峰位漂移、加工工艺、元素相互干扰、恶意掺假5类案例的分析,说明了仪器检测数据不是最终检验结果,突显了图谱分析的重要性.因此,在贵金属首饰检测中检验人员要仔细分析样品图谱,结合经验和样品特点对检测数据进行修正或论证,才可得出正确结论.