用户名: 密码: 验证码:
南天山中心世以来的幕式陆内造山作用:来自塔西南前陆盆地的磁性地层学与沉积学证据
详细信息    查看全文 | 下载全文 | 推荐本文 |
  • 作者:陈新伟陈汉林林秀斌Karl-Heinz WyrwollGeoffrey E.Batt沈忠悦程晓敢
  • 会议时间:2014-10-19
  • 关键词:幕式陆内造山作用 ; 磁性地层 ; 沉积特征 ; 构造演化
  • 作者单位:陈新伟,陈汉林,林秀斌,沈忠悦,程晓敢(浙江大学地球科学系 杭州 310027;教育部含油气盆地研究中心 杭州 310027)Karl-Heinz Wyrwoll(School of Earth and Environment,University of Western Australia,Stirling Highway,Crawley,Western Australia 6009,Australia)Geoffrey E.Batt(School of Earth and Environment,University of Western Australia,Stirling Highway,Crawley,Western Australia 6009,Australia;John de Laeter Centre of Isotope Research for the Eartha and Environment,University of Western Australia,Crawley,Western Australia 6009,Australia)
  • 母体文献:2014年中国地球科学联合学术年会论文集
  • 会议名称:2014年中国地球科学联合学术年会
  • 会议地点:北京
  • 主办单位:中国地球物理学会
  • 语种:chi
  • 分类号:P5;X14
摘要
为了更好地揭示南天山新生代的构造演化与沉积过程,笔者选择了西南天山山前的铁热克萨孜剖面的新生代地层开展了磁性地层研究,确定不同沉积地层的时间,以揭示各地层时代并确定不同时期的沉积速率,限定西南天山在新生代构造过程.为了建立该区新生界的磁性地层柱,笔者在新近系地层中共设置采样点702个,采集样品2140块。样品的等温剩磁与K-T曲线结果表明其携磁矿物主要为赤铁矿和少量磁铁矿。对样品进行逐步热退磁发现特征剩磁主要在300℃之后分离出来,剩磁强度在580℃和680℃有明显的下降。根据获得的特征剩磁建立了乌鲁克恰提剖面新近纪磁性地层柱。该磁性地层柱揭示出新近系中存在着39对正极性和负极性。其中克孜洛依组(E3-N1)k极性带较短,到安居安组(Nla)极性带变长,帕卡布拉克组(Nlp)上段由于采样点较少导致精度降低,整体上正极性占较大比例。结合地层柱的磁性特征、孢粉样品、磷灰石裂变径迹的热演化反演模式及前人的古生物地层学的研究结果,笔者认为该磁性地层柱对应于GPTS2009上的C2A.1n-C6B.2n,时间跨度为2.6-22.1Ma。其中上新统阿图什组的时间为5.2-2.6Ma,中新统乌恰群帕卡布拉克组的时间为17.4-5.18Ma,安居安组的时间为20.4-17.4Ma,克孜洛依组的时间为22.1-20.4Ma。综合磁性地层柱、沉积相变化、磷灰石裂变径迹和孢粉结果,笔者认为研究区古近纪阿尔塔什组(E2a)-巴什布拉克组(E2-3b)为一套海相地层,平均沉积速率约为1.8cm/ka。克孜洛依组(E3-N2)k与巴什布拉克组(E2-3b)平行不整合接触。新近纪克孜洛依组(E3-N2)k-帕卡布拉克组(N2p)中段为陆相的河湖相地层,时间间隔为22.1Ma-12Ma,平均沉积速率为约12.3cm/ka。以第一次出现的席状砾石层为界线,帕卡布拉克组(N2p)上段以冲积相的砂砾岩席为主。以第一次出现的席状砾石层为界线,帕卡布拉克组(N2p)上段以冲积相的砂砾岩席为主时间间隔为12-5.2Ma,平均沉积速率为约16.3cm/ka。阿图什组(N2a)开始出现厚砾石层,与第四系的西域组(Q2x)都以大套厚层冲积扇相砾岩为主,时间间隔为5.2Ma以来,平均沉积速率约为22.8cm/ka。地层沉积速率、沉积相变、沉积物粒度的一致变化表明研究区发生了三次叠加的沉积事件,并与西域组底部砾石的磷灰石裂变径迹反演结果相吻合,表明这些沉积事件是受构造作用所影响。区域上的对比表明这三次构造事件在整个南天山广泛分布,发生时间接近一致。认为渐新世一中新世的第一次构造事件是南天山刚受到印度一亚洲碰撞的远场效应的反映,12Ma和5.2Ma的构造事件是南天山逆冲带向盆地逐渐扩展的结果。

© 2004-2018 中国地质图书馆版权所有 京ICP备05064691号 京公网安备11010802017129号

地址:北京市海淀区学院路29号 邮编:100083

电话:办公室:(+86 10)66554848;文献借阅、咨询服务、科技查新:66554700