基于用户无损检测需求的高能工业CT系统定制化解决方案

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• 作者：肖永顺李砚涛
• 会议时间：2014-10-31
• 关键词：无损检测 ; 工业计算机断层成像 ; 系统设计
• 作者单位：肖永顺(清华大学工程物理系,北京,100084)李砚涛(北京固鸿科技有限公司,北京 100083)
• 母体文献：第五届无损检测高等教育发展论坛学术交流会论文集
• 会议名称：第五届无损检测高等教育发展论坛学术交流会
• 会议地点：重庆
• 主办单位：中国机械工程学会无损检测分会
• 语种：chi
• 分类号：TP3;TN9

摘要

射线能量在1MeV以上的高能工业CT系统的应用范围广,检测产品差异大,而且整体的市场容量较小,无法形成大规模生产;因此在系统的设计开发过程中,难以实现完全的标准化.高能工业CT系统由X射线源、探测器、扫描装置、扫描控制以及计算机系统组成。高能工业CT系统中可以进行定制化设计的元素包括:扫描范围(直径、高度、重量);系统空间布局尺寸(D,T);扫描方式(DR、二代、三代、大视野三代等);扫描时间;加速器参数;探测器类型及参数;机械结构及运动参数;软件功能。本文介绍了高能工业CT系统的定制化解决方案,从满足用户检测需求的角度出发,在系统设计开发过程中,定制系统各项配置,最终完成能够充分满足用户需求的高能工业CT产品.