半导体器件空间辐射总剂量效应
- 作者：孙越强朱光武王世金梁金宝王晶陶鹏杜起飞
- 会议时间：2004-09-01
- 关键词：电离辐射 ; 空间总剂量效应 ; 半导体器件
- 作者单位：中国科学院空间科学与应用研究中心(北京
- 母体文献：中国空间科学学会空间探测专业委员会第十七次学术会议论文集(下册)
- 会议名称：中国空间科学学会空间探测专业委员会第十七次学术会议
- 会议地点：乌鲁木齐
- 主办单位：中国空间科学学会
- 语种：chi
摘要
空间辐射总剂量效应是引起航天器故障最主要的因素之一.本文主要介绍了,半导体器件辐射总剂量效应的机理,影响器件辐射损伤程度的因素,及器件抗辐射总剂量的测试方法.