温度对TFA-MOD制备YBCO薄膜的影响

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• 作者：金利华卢亚锋熊晓梅刘奉生于泽铭白利锋李成山
• 会议时间：2007-11-20
• 关键词：超导薄膜 ; 超导电性 ; X射线衍射 ; 扫描电镜
• 作者单位：西北有色金属研究院,陕西西安 710016
• 母体文献：第四届全国非晶合金及其复合材料学术会议论文集
• 会议名称：第四届全国非晶合金及其复合材料学术会议
• 会议地点：武汉
• 主办单位：中国材料研究学会
• 语种：chi

摘要

采用TFA-MOD方法在YSZ单晶基底上制备YBCO薄膜,主要研究高温热处理阶段温度对薄膜微结构和超导电性的影响。采用X射线衍射和扫描电镜分别对相组成与形貌进行分析。结果显示在800-830℃之间,能够获得纯的YBCO相,同时随着晶化温度的降低,薄膜面内α轴晶粒减少,有利于薄膜超导电性的改善。