阵列感应测井响应的井洞影响分析
- 出版年：2008
- 作者：仵杰；李博博；解茜草；冯娟；赵玲；牒勇
- 单位1：西安石油大学光电油气测井与检测教育部重点实验室
- 出生年：1965
- 学历：博士
- 职称：教授
- 语种：中文
- 作者关键词：阵列感应测井；井洞影响；数值模拟；几何因子；电阻率；响应曲线
- 起始页：498
- 总页数：5
- 刊名：测井技术
- 是否内版：否
- 刊频：双月刊
- 创刊时间：1977
- 主管单位：中国石油天然气集团公司
- 主办单位：中国石油集团测井有限公司
- 主编：陆大卫
- 地址：陕西省西安市南郊红专南路8号
- 邮编：710061
- 电子信箱：cnpcwlt@126.com
- 网址：http://www.cnpcwlt.com
- 卷：32
- 期：6
- 期刊索取号：P635.06 649-2
- 数据库收录：中国科技核心期刊；中国核心期刊（遴选）数据库期刊；中国期刊全文数据库(CJFD)全文收录；中国科学引文数据库来源期刊；“中国期刊方阵”双效期刊；中国科技期刊数据库（全文版）收录；中国科技论文统计源期刊；中国《CAJ-CD规范》优秀奖；被美国《化学文摘》(CA)收录；被俄罗斯《文摘杂志》(AJ)收录；被美国《石油文摘》(PA)收录；被《中国石油文摘》(CPA)收录；被美国SPWLA地球物理数据库收录；陕西省优秀科技期刊一等奖；中国石油天然气集团公司优秀期刊
- 核心期刊：中国科技核心期刊；中国核心期刊（遴选）数据库期刊
摘要
井洞影响是井径变化致使阵列感应测井响应曲线出现异常的主要原因。在建立井洞影响计算模型的基础上，数值计算分析了井洞径向深度、纵向宽度、井眼泥浆电导率和地层电导率变化对阵列感应测井各子阵列的影响特征。结果表明，井洞影响在子阵列1和2的曲线上显示为假层存在；其他子阵列会出现凸或凹尖峰异常，在高电阻率地层出现负值；数据合成处理异常，深探测深度曲线分辨率高于浅探测深度；低泥浆电导率与地层电导率差别大，井洞影响严重；当地层电导率较低时，井洞的负影响会使响应出现负值异常，致使后续处理出错；随着井眼半径的增大，短子阵列表现为假层，较长子阵列的异常明显。通过几何因子解释了井洞影响导致曲线异常的原因。实际测井曲线的井洞影响实例验证了井洞影响数值模拟结果的有效性。