非测量层SnKα特征谱线对X射线荧光光谱法测定冷轧镀锡板Sn层质量影响的探讨
- 出版年：2010
- 作者：林学武；王德智；徐永宏
- 单位1：梅山公司新事业分公司质检站
- 出生年：1970
- 学历：学士
- 职称：高级工程师
- 语种：中文
- 作者关键词：X射线荧光光谱；基板厚度；镀层质量；非测量层；SnK
- 起始页：18
- 总页数：5
- 刊名：冶金分析
- 是否内版：否
- 刊频：月刊
- 创刊时间：1981
- 主管单位：中国钢铁工业协会
- 主办单位：中国钢研科技集团有限公司（钢铁研究总院）；中国金属学会
- 主编：贾云海
- 地址：北京海淀区学院南路76号
- 电子信箱：yjfx@analysis.org.cn；yjfx@chinajournal.net.cn
- 网址：http://www.yejinfenxi.cn
- 卷：30
- 期：3
- 期刊索取号：P340.6 262-1
- 数据库收录：国际钢铁工业分析委员会制定刊物；中国科技论文统计源期刊；全国中文核心期刊；美国“CA”千钟表中国化学化工类核心期刊；EI数据库（自1994）/SCOPUS数据库（自2009）收录期刊
- 核心期刊：全国中文核心期刊；美国“CA”千钟表中国化学化工类核心期刊
摘要
本文运用ZSX仪器分析软件建立了基本参数法（FP）测试模型，对冷轧镀锡板Sn层质量分析中非测量层SnKα特征谱线对定量分析的影响进行了研究。阐述了影响非测量层SnKα特征谱线产生的两大因素基板厚度和镀层质量及其变化对定量分析产生的SnKα增量影响程度，得出当基板厚度大于0.2mm时，非测量层SnKα特征谱线产生的增量较小，可以进行相应的校正；当基板厚度小于0.2mm时，非测量层SnKα特征谱线产生的Sn增量较大，且不易校准；当基板厚度一定并可导致非测量SnKα特征谱线产生时，此时由镀层质量变化而导致非测量SnKα特征谱线产生的Sn增量比较稳定，可进行相应的校正，并用实际生产样品进行了分析、验证。