基于数字图像的粒状材料细观组构特征分析技术

详细信息   

• 责任者：张连卫^c清华大学^d1978^f讲师 ; 张建民 ; 张嘎
• 刊名：岩土工程学报
• 出版年：2008
• 卷期：30^b10总191
• 关键词：土力学20^a建筑材料 ; 颗粒 ; 图象处理 ; 二维模型30^a细观组构 ; 粒状材料 ; 数字图像
• 页码：1555～1559
• 索书号：P473.066/357
• 图表：^c参14插图
• 分类号：1600
• 文摘期号：2009/03

摘要

针对由特殊截面形状的金属棒所组成的理想二维粒状材料,基于数字图像技术,提出了一种细观组构特征分析方法,并编制了程序IPFA,实现了颗粒识别、接触搜索与组构分析等功能。该方法首先对粒状材料试样的原始数字图像进行增强,以消除噪声干扰。在此基础上采用模板匹配技术进行颗粒识别,并将识别结果用于颗粒间的接触搜索,最后给出试样内颗粒长轴方向与接触法线方向等组构特征的统计分析结果。该方法特别适用于由规则颗粒组成的二维粒状材料,识别精度与效率均较高,可作为粒状材料的细观组构特征及其演化规律分析的有效工具。