X射线荧光光谱法测定铁矿石中主次成分

详细信息   

• 责任者：罗学辉^c武警黄金地质研究所^d1979^f工程师 ; 陈占生 ; 陈雪 ; 李玄辉
• 刊名：黄金科学技术
• 出版年：2010
• 卷期：18^b5总154
• 关键词：X射线荧光光谱 ; 化学分析20^a试剂 ; 精密度 ; 准确度 ; 铁矿 ; 铁 ; 硅 ; 铝 ; 镁 ; 钙 ; 钠 ; 钾 ; 磷
• 页码：123～124
• 索书号：P422.106/589-7
• 图表：^c表4参4
• 分类号：2300
• 文摘期号：2011/05

摘要

采用四硼酸锂和偏硼酸锂，氟化锂［m(Li₂B₄O₇)∶m(LiBO₂)∶m(LiF)=4.5∶1∶0.4］为熔剂，采用1∶30熔剂稀释比，于1 050 ℃熔融铁矿样品制成玻璃样片，用波长色散X射线荧光光谱仪同时对样片中Fe、Si、Al、Mg、Ca、Na、K、P进行测定。用铁矿石标样经同法测定并对测定结果进行理论a系数校正后绘制工作曲线。10次制样测量各组分，相对标准偏差在0.43%～5.86%范围内，该方法与化学测定结果符合较好，完全满足日常分析的需要。