浙江青田单斜晶系叶腊石微结构的高分辨透射电镜研究

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• 责任者：严俊^c浙江工业大学^e博士研究生 ; 姚程 ; 方伟 ; 张俭 ; 盛嘉伟
• 刊名：岩矿测试
• 出版年：2012
• 卷期：31^b2
• 关键词：叶蜡石 ; 微结构20^a晶体结构 ; 透射电子显微术数据 ; 单斜晶系 ; 矿物学30^a粒径效应
• 页码：295～300
• 索书号：P340.6/357-2
• 图表：^c表1参26插图
• 分类号：0200
• 文摘期号：2012/12

摘要

采用X射线粉晶衍射(XRD)、高分辨透射电镜(HR‐TEM)及X射线荧光光谱(XRF)对青田叶腊石的矿物学特征进行了较为系统的研究。结果表明：叶腊石矿物颗粒微结构中最基本的构成单元为纳米板片，且该板片多呈聚集态，单层板片面积大小不一，厚度为(8±2) nm。XRF分析结果表明青田叶腊石原矿混合物中SiO₂与Al₂O₃的分子个数比为6.2，明显高于纯叶腊石中SiO₂与Al₂O₃的分子个数比4.0。HR‐TEM对叶腊石晶体结构的研究证实青田叶腊石具有典型的单斜晶系特征，该结论与叶腊石XRD结论一致；且XRD分析结果证实其伴生矿为石英，该结论与XRF所获得的青田叶腊石的“富硅”特征吻合。此外，叶腊石微结构中存在着较明显的晶体缺陷。在高能电子束辐照作用下，叶腊石晶体结构发生明显的破坏，并最终转变为非晶态结构。