电阻率剖面法探测深度的研究

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• 责任者：霍军廷^c东华理工大学^d1984^e硕士 ; 吴信民 ; 李乃民
• 刊名：物探化探计算技术
• 出版年：2011
• 卷期：33^b4总138
• 关键词：电阻率法 ; 电剖面法20^a定量分析 ; 联合剖面法 ; 电法勘探30^a探测深度
• 页码：418～423
• 索书号：P630.6/363-14
• 图表：^c参16插图
• 分类号：2100
• 文摘期号：2012/01

摘要

在考虑了异常体的形态、异常体和围岩的电性差异、供电极和接收极测量误差、供电电流误差、仪器测量精度，以及外界干扰等因素的基础上，提出了用电位异常来描述电阻率剖面法中探测深度的定义。通过编程，计算得到各向同性均匀半空间中球体异常，在电阻率剖面法中的电位异常，得出在特定条件下的探测深度。定量分析了联合剖面法中探测深度与电极距AO、供电电流和外界干扰的关系。制作并完成了软件的各种正演计算，可以为电阻率剖面法野外施工前的电极距大小、供电电流的设计等提供参考。