泥质烃源岩的比表面与有机质关系研究进展及意义

详细信息   

• 责任者：朱晓军^c同济大学海洋地质国家重点实验室^d1986^e硕士研究生 ; 蔡进功
• 刊名：石油与天然气地质
• 出版年：2012
• 卷期：33^b3
• 关键词：烃源岩 ; 有机质丰度 ; 比表面积20^a孔隙结构 ; 吸附作用30^a泥质烃源岩
• 页码：375～384
• 索书号：P450.6/167-1
• 图表：^c表1参70
• 分类号：0831
• 文摘期号：2013/02

摘要

烃源岩中有机质的富集一直备受关注，研究有机质与比表面关系是认识有机质富集机理的重要方法之一。泥质烃源岩比表面的构成较为复杂，它与烃源岩的孔隙尺寸、岩石组分、矿物成分以及粘土矿物的内表面和外表面等因素密切相关；但是，比表面的各检测方法都有其局限性，如压汞法适用于检测介孔和大孔，氮气吸附法适合于微孔和外表面，EGME法适用于微孔和内表面等，因此，选择合适的检测方法研究泥质烃源岩的比表面特征至关重要。烃源岩中有机质的赋存方式不同，特别是可溶有机质，或以物理吸附方式附着于矿物的外表面，或以化学吸附方式进入矿物的内表面，这造成了有机质与比表面相关性的变化与差异。因此，在开展泥质烃源岩比表面研究时，既要关注岩石矿物及有机质赋存特征影响，也要依据研究目的选择合适的比表面检测方法。